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Koautoren
- Mark M. TehranipoorIntel Charles E. Young Endowed Chair Professor, ECE, University of FloridaBestätigte E-Mail-Adresse bei ufl.edu
- Domenic ForteProfessor of ECE, University of FloridaBestätigte E-Mail-Adresse bei ece.ufl.edu
- B.M.S. Bahar TalukderGPU Implementation, AppleBestätigte E-Mail-Adresse bei apple.com
- Farah FerdausArgonne National LaboratoryBestätigte E-Mail-Adresse bei anl.gov
- Sadman SakibNVM Reliability R&D EngineerBestätigte E-Mail-Adresse bei intel.com
- Fahim RahmanResearch Assistant ProfessorBestätigte E-Mail-Adresse bei ece.ufl.edu
- M. Sadik AwalPhD Candidate, SeRLoP Research Lab, Florida International UniversityBestätigte E-Mail-Adresse bei fiu.edu
- Preeti KumariProduct Quality and Reliability Engineer at Micron Inc.Bestätigte E-Mail-Adresse bei alumni.uah.edu
- Fathi AmsaadWright State UniversityBestätigte E-Mail-Adresse bei wright.edu
- Md Imtiaz RashidUniversity of Texas at DallasBestätigte E-Mail-Adresse bei utdallas.edu
- Nima KarimianWest Virginia UniversityBestätigte E-Mail-Adresse bei mix.wvu.edu
- Sara TehranipoorWest Virginia UniversityBestätigte E-Mail-Adresse bei mail.wvu.edu
- Md Kawser BeparyUniversity of FloridaBestätigte E-Mail-Adresse bei ufl.edu
- Arjuna MadanayakeAssociate Professor of Electrical and Computer Engineering at FIUBestätigte E-Mail-Adresse bei fiu.edu
- Prof. Dr. Noor Zaman Jhanjhi, PhDProfessor and Program Director for Postgraduate Research Programmes at Taylor's UniversityBestätigte E-Mail-Adresse bei taylors.edu.my
- Saraju P. MohantyProfessor, University of North TexasBestätigte E-Mail-Adresse bei unt.edu
- Mohammad Ashiqur RahmanFlorida International UniversityBestätigte E-Mail-Adresse bei fiu.edu